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入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀

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公司名稱埃登威自動化系統(tǒng)設(shè)備（上海）有限公司
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所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2025/11/19 9:15:31
訪問次數(shù)98

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埃登威自動化系統(tǒng)設(shè)備（上海）有限公司是一家專為氣體分析提供完備解決方案的供應(yīng)商,是意大利ADEV在華代表處，ADEV是石化化工行業(yè)的氣體分析系統(tǒng)的領(lǐng)D者,產(chǎn)品同時廣泛應(yīng)用在冶金,食品，制藥，鋼鐵,電子，氣體制造，航空航天等行業(yè)。多年的分析儀器的研發(fā)、生產(chǎn)及氣體分析系統(tǒng)的設(shè)計和安裝經(jīng)驗(yàn),使得埃登威自動化系統(tǒng)設(shè)備（上海）有限公司成為Z為可靠的、**革新精神的氣體分析解決方案的領(lǐng)X品牌！我們的使命創(chuàng)建并*市場, 高品質(zhì)和易于操作為工業(yè)用戶提供儀器儀表和軟件解決方案等相關(guān)服務(wù)提高能源利用率保障安全生產(chǎn)確證產(chǎn)品質(zhì)量的同時將利潤大化埃登威以客戶滿意和社會責(zé)任為己任我們的客戶我們的客戶包括亞洲、歐洲和美國的一些頂J公司，與這些客戶的合作關(guān)系使我們占據(jù)了有利地位，激勵我們在現(xiàn)在和將來持續(xù)進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)X。正是我們優(yōu)X的客戶使得我們變得更高更強(qiáng)！在我們的客戶包括了法國液化空氣公司，林德氣體公司，寶鋼氣體公司，百威啤酒公司等知M企業(yè)。上游供應(yīng)商則囊括了意大利ADEV，瑞士ABB，美國GE等知M企業(yè)。我們的員工我們的員工團(tuán)隊(duì)由接受過高水平培訓(xùn)的專業(yè)人士組成。他們熱愛自己的工作，熱衷于富有挑戰(zhàn)性的任務(wù)和機(jī)遇，并且具有客戶至上的態(tài)度、理念和愿望。簡言之，我們的人員因客戶滿意而獲得成長！我們把客戶的問題當(dāng)成是我們自己的問題。通向成功的伙伴關(guān)系只有真正理解我們所從事的業(yè)務(wù)，才能走向成功。埃登威系統(tǒng)公司始終專注于客戶及其特定需求。埃登威系統(tǒng)公司的技術(shù)顧問和開發(fā)工程師們一直在研究、開發(fā)氣體測量的新技術(shù)，可為我們的客戶提供有前瞻性的、經(jīng)得起時間考驗(yàn)的解決方案。埃登威自動化系統(tǒng)設(shè)備（上海）有限公司在近年獲得了快速成長，在未來我們將繼續(xù)我們的平臺戰(zhàn)略，讓儀表技術(shù)在暢行無阻，與我們的用戶一道成為更好的自己。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品信息

埃登威自動化-專業(yè)進(jìn)口儀器供應(yīng)商！我們提供豐富的儀器儀表種類、有競爭力的產(chǎn)品價格及良好的售后服務(wù)。

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品簡介：

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時可同時測定24種元素。

正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。

的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

黃金制品和K金制品分析

鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

其他合金分析和鍍層厚度測量

多鍍層厚度測量

我們會努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準(zhǔn)。

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀：

通用規(guī)格
設(shè)計用途	采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
元素范圍	從元素氯（17）到鈾（92），多時可同時測定24種元素。
重復(fù)性	測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
形式設(shè)計	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由下往上
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓	三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準(zhǔn)直器）	φ1mm；可選φ2mm
測量點(diǎn)尺寸	當(dāng)測量距離MD=0mm時，測量點(diǎn)直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器	采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
能量分辨率（Mn元素Kα半高寬）	≤180eV
測量距離	0...10mm
測量距離	通過受專有保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法，可在不同測量距離上不需要重新校準(zhǔn)就能進(jìn)行測量；對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進(jìn)行額外的校準(zhǔn)。
樣品定位
樣品放置	手動
視頻系統(tǒng)	高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控
視頻系統(tǒng)	十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸），可調(diào)節(jié)亮度的LED照明
圖像發(fā)達(dá)倍數(shù)	40x~160x
工作臺
形式設(shè)計	固定工作臺
樣品放置可用區(qū)域	310x320mm
樣品較大重量	13KG
樣品較高高度	90mm
電氣參數(shù)
電源要求	AC 220V 50Hz
功耗	較大120W（不包括計算機(jī)）
保護(hù)等級	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸（寬x深x高）	403x588x365mm
重量	大約45KG
環(huán)境要求
使用時溫度	10℃~40℃
存儲或運(yùn)輸時溫度	0℃~50℃
空氣相對濕度	≤95%，無結(jié)露
計算單元
計算機(jī)	Windows®-PC
軟件	標(biāo)準(zhǔn)：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
軟件	可選：Fischer WinFTM®
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE合格標(biāo)準(zhǔn)	EN 61010
X射線標(biāo)準(zhǔn)	DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批準(zhǔn)	作為受保護(hù)的儀器
形式批準(zhǔn)	符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法規(guī)的規(guī)定