電腦式薄膜測厚儀
應用領域 多種適用場景
用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度準確測量；
對金屬箔片、鋁箔片、銅箔片等硬質材料厚度準確測量；
接觸式測試原理可更有效地檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值；
通過調節測量頭可完整紙張規定的壓力和面積，完成各種紙張、紙板材料厚度測試。
電腦式薄膜測厚儀產品特點展示
微電腦控制
微電腦控制、大液晶顯示，高精度傳感器，保證了測試精度，嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
測量頭自動升降
測量頭自動升降，手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇，標準量塊標定，方便用戶快速標定設備
使用方便
配備微型打印機，數據實時顯示、自動統計，自動保存多組測試結果，提供測試結果圖形統計分析、方便打印每次測量結果，方便用戶分析數據
配置齊全
測厚儀手動進樣，儀器可配置自動進樣器進行自動測試，配備標準 RS232 接口，方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸（通訊軟件選配）
高精度薄膜測厚儀測試原理
測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。
技術參數：
測量范圍：0-2mm（其他量程可定制）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次 / 分（可調）
接觸面積：50mm2（薄膜），200mm2（紙張）；注：薄膜、紙張任選一種
進樣步矩：0 ~ 1300 mm（可調）（選配功能）
進樣速度：0 ~ 120 mm/s（可調）（選配功能）
外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：18kg
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