JJG(交通)195-2023 顯微鏡式測厚儀檢定規程
貨號：AUBAT-DSZ5710
讀數顯微鏡檢定裝置
(十字可調置物臺、大理石臺架、光學夾持)
顯微鏡式測厚儀主要用于刻線寬度、間距等長度量的測量。工作原理為：利用顯微鏡光學系統對被測物的尺寸進行放大和細分，通過目鏡內的刻線尺直接讀出被測物實際尺寸。
| 受檢點分布位置 | |
| 分度值mm | 受檢點分布位置mm |
| 0.05 | 0，1，1.2，2，2.4，3，4，5，6 |
| 0.02 | 0，0.4，0.8，1.2，1.6 |
| 0.01 | 0，0.2，0.4，0.6，0.8，1.0 |
| 0.005 | 0，0.1，0.2，0.4，0.6，0.8 |
| 0.001 | 0，0.05，0.1，0.15，0.2，0.25，0.3 |
檢定方法
1 外觀：采用目測和手檢的方法檢查外觀。
2 銘牌：采用目測方法檢查銘牌。
3 示值誤差：示值誤差檢定步驟如下：
a）安裝顯微鏡式測厚儀至讀數顯微鏡檢定裝置上，將標準玻璃刻線尺放置在檢定裝置工作臺上，調焦使標準玻璃刻線尺的刻線清晰地成像在顯微鏡式測厚儀的視場內，并使標準刻線尺軸線方向與顯微鏡式測厚儀的視場中十字線移動方向一致；
b）借助檢定裝置的工作臺使十字線分劃板數線對準標準玻璃刻線尺的零刻線，進行正向瞄準記下讀數；
c）根據被檢顯微鏡式測厚儀的分度值，按照下表規定選擇受檢點，從小到大依次開展受檢點檢定實驗，移動視場中十字線，并使十字線的豎線方向對準標準玻璃刻線尺上相應刻線，記下零點顯微鏡式測厚儀讀數 ，適當越程后進行反方向測量記下零點讀數；
d）重復 c）步驟正反行程測量又得讀數 a2i和 b2i，以正向兩次讀數（a1i，a2i）的平均值作為零點正向示值，取反向兩次讀數（b1i，b2i）的平均值作為零點反向示值，則零點對
起始點的正向或反向示值誤差按公式計算。
e）重復 c）~ d）步驟，按同樣的計算方法計算其他受檢點正、反向行程示值誤差，取各受檢點正、反行程示值誤差**值中較大值作為檢定結果。
4 回程誤差
計算示值誤差中同一測量點正、反向示值之差的**值，取*大值作為檢定結果。
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