賽默飛 K-Alpha+ X射線光電子能譜儀系統

賽默飛 K-Alpha+ X射線光電子能譜儀系統是一款*集成的X射線光電子能譜。獲獎的版K-Alpha平臺特征光譜性能顯著提高，提供更高計數率和更快分析時間，改善化學探測能力。分析選配件包括一個角分辨XPS傾斜模塊和一個循環惰性氣體手套箱，用于轉移空氣敏感樣品。K-Alpha帶來一系列激動人心的新軟件特征，旨在進一步增強用戶體驗。賽默飛 K-Alpha+ X射線光電子能譜儀系統是專為多用戶環境而設計，*的單色X射線光電子能譜性能與智能自動化及直觀控制相結合，同時滿足有經驗XPS分析人員及新人對此項技術的需求。
以最小的投入獲得專家研究級的結果。Thermo Scientific™ K-Alpha™+X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統是一種*集成式單色小光斑 XPS 系統，具備深度剖析能力。的性能、更低的擁有成本、更高的易用性以及緊湊的尺寸，使 K-Alpha X 射線 XPS 系統成為多用戶環境的理想選擇。
以屢獲殊榮的 K-Alpha XPS 系統為基礎打造，K-Alpha+ 能譜儀可提供顯著增強的能譜性能。這個巨大的進步可實現更快的分析、更好的元素檢測以及獲得更高分辨率的數據以更好地完成化學狀態鑒定。
分析選項包括革命性的復合型離子源、一個用于將空氣敏感樣品從手套箱轉移到系統的真空傳遞模塊，以及用于收集 ARXPS 數據的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數據系統（全面的表面分析軟件系統），K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能，專為優化數據解讀、數據報告和可用性而設計。K-Alpha+ XPS 系統可滿足經驗豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能 單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結合在一起。
*的性能
可選面積能譜分析
濺射深度剖析
微聚焦單色器
快照采集
高分辨率化學狀態能譜分析
絕緣樣品分析
定量化學成像
無以倫比的易用性
采集——能譜、圖像、剖析、線掃描
解讀—— 元素和化學狀態鑒定
處理 —— 定量、分峰擬合、實時剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學/XPS 圖像疊加
報告—— 自動生成報告且可輕松導出到其他軟件包
所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進行控制
Avantage Indexer——數據存檔索引
審計跟蹤記錄
系統性能記錄
按需校準
*的遠程操控
主要特點
分析器—— 180° 雙聚焦半球型分析器，配備 128 通道檢測器
X 射線源—— Al Ka 微聚焦單色器，可變光斑尺寸（30-400 µm，以 5 µm 為步長）
離子槍—— 能量范圍 100-4000 eV
荷電補償——雙束源
樣品處理——4 軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區域、20 mm 樣品厚度
真空系統——2 x 220 L/s 渦輪分子泵，用于進樣室和分析室
可選配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™ 復合型離子源、真空傳遞模塊、用于 ARXPS 的傾斜模塊、樣品偏壓模塊。