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詳細摘要： FEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡是 FEI *的 XHR（*分辨率）SEM 系列的第二代產品。在*半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至...

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詳細摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率場發射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺。Sigma500...

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詳細摘要： FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需...

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