詳細摘要： 簡單介紹： 200mm線紋尺 國標二等線紋尺 玻璃線紋尺 標準線紋尺適用于國家計量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計量器具和精密儀器進行**檢驗和校正。...

詳細摘要： 簡單介紹： 100mm線紋尺 國標二等線紋尺 玻璃線紋尺 標準線紋尺適用于國家計量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計量器具和精密儀器進行**檢驗和校正。...

詳細摘要： 簡單介紹： 50mm線紋尺 國標二等線紋尺 玻璃線紋尺 標準線紋尺適用于國家計量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計量器具和精密儀器進行**檢驗和校正。5...

詳細摘要： 簡單介紹： 10mm線紋尺 國標二等線紋尺 玻璃線紋尺 標準線紋尺適用于國家計量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計量器具和精密儀器進行**檢驗和校正。1...

詳細摘要： 簡單介紹： 1mm線紋尺 國標二等線紋尺 玻璃線紋尺 標準線紋尺適用于國家計量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計量器具和精密儀器進行**檢驗和校正。1m...

詳細摘要： 簡單介紹： 長平晶210，長平晶310，長平晶，平面平晶，方形平面平晶，長條平面平晶，平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測...

詳細摘要： 簡單介紹： 長條平面平晶310，長平晶310，平面平晶，方形平面平晶，長條平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的...

詳細摘要： 簡單介紹： 長條平晶210，長平晶，平面平晶，方形平面平晶，長條平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平...

詳細摘要： 簡單介紹： 平行平晶75-100用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用...

詳細摘要： 簡單介紹： 平行平晶50-75用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平...

詳細摘要： 簡單介紹： 平行平晶25-50用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平...

詳細摘要： 簡單介紹： 平行平晶0-25用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶...

詳細摘要： 簡單介紹： Ф600平面平晶，上等平晶，Φ600平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)...

詳細摘要： 簡單介紹： Φ500平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高...

詳細摘要： 簡單介紹： Φ400平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高...

詳細摘要： 簡單介紹： Ф350平面平晶，上等平晶，Φ350平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)...

詳細摘要： 簡單介紹： Φ300平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高...

詳細摘要： 簡單介紹： Φ250平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高...

詳細摘要： 簡單介紹： Φ200平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高...

詳細摘要： 簡單介紹： Φ150平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高...