真空衰減法無(wú)損微泄露密封性測(cè)試儀圖片

DRK真空衰減法無(wú)損微泄露密封性測(cè)試儀，儀器適用標(biāo)準(zhǔn)如下：ASTMF2338使用真空衰變法無(wú)損檢驗(yàn)包裝密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法、SP1207美國(guó)藥典標(biāo)準(zhǔn)。