功率半導體測試電源高壓程控電源

產品簡介

高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高（3500V）、能輸出及測量微弱電流信號（1nA）的特點。設備工作在D一象限，輸出及測量電壓0~3500V，輸出及測量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式，同時支持豐富的I-V掃描模式,更多產品詳情上普賽斯儀表官&網咨詢

部分技術參數

蕞大輸出功率：E300:350W，3500V/100mA（不同型號有差異）；

輸出電壓建立時間典型值：< 5ms；

輸出接口：E100:三同軸BNC；E200、E300:KHV（三同軸）；

掃描：支持線性、對數及用戶自定義掃描；

通信接口：RS232、以太網；

保護：支持急停、高壓互鎖保護；

觸發：支持trig IN及trig out；

尺寸：19英寸2U機箱，深度：520mm(不包含掛耳及急停按鈕)

應用領域：

用于IGBT擊穿電壓測試,IGBT動態測試母線電容充電電源、IGBT老化電源,防雷二極管耐壓測試,壓敏電阻耐壓測試等場合。其恒流模式對于快速測量擊穿點具有重大意義。

武漢普賽斯一直專注于半導體的電性能測試儀表開發,基于核心算法和系統集成等技術平臺優勢,帥先自主研發了高精度數字源表、脈沖式源表、脈沖恒流源、大電流脈沖電源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件測試設備、半導體參數分析儀等產品,廣泛應用在半導體器件材料的分析測試領域。欲了解更多功率半導體測試電源高壓程控電源信息，歡迎隨時咨詢普賽斯儀表！