GB/T1409漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀 返回列表頁

概述：GB/T1409漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GDAT-S是具有多種功能和高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。
GB/T1409漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試強(qiáng)有力的工具。其超高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點檢機(jī)，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。GDAT-S系列產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)如 IEC 和 MIL 標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。  
測試儀是符合 LXI 標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測試儀器，其 0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析。

產(chǎn)品用途：全自動介質(zhì)損耗測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)可以直接不用人工計算得到。

全自動介質(zhì)損耗測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(選配）, 三種選項它能完成工作頻率內(nèi)對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1.變壓器參數(shù)測試功能

2.高測試速度:13ms/次  

3.電壓或電流的自動電平調(diào)整（ALC）功能

4.V、I 測試信號電平監(jiān)視功能

5.內(nèi)部自帶直流偏置源

6.可外接大電流直流偏置源

7.可直接得到介電常數(shù)和介質(zhì)損耗 不用人工計算

8.可測試電阻

9.4.3寸TFT液晶顯示

10.中英文可選操作界面

11.高5MHz的測試頻率

12.平衡測試功能
13.10點列表掃描測試功能

14.30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻

15.內(nèi)建比較器，10檔分選和計數(shù)功能

16.內(nèi)部文件存儲和外部U盤文件保存

17.量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤

18.RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

19.高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

20.介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1～105

ε和D性能：

?固體絕緣材料測試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測試。

?ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

?ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

?測試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

?測試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)

?測試信號電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

?輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

?基本準(zhǔn)確度 ;0.1%

顯示范圍 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

?測量速度 ：快速，200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 。中速， 25次/s, 慢速: 5次/s。

?校準(zhǔn)功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)

?等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

?量程方式:自動, 保持

?顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

?觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動, 外部, 總線

?內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

?置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

?比較器功能:10檔分選及計數(shù)功能

?顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示

?存儲器 :可保存20組儀器設(shè)定值

?USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

?接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

?工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，

?精度：±0.02%

?電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯

?電容測量基本誤差：±0.05%

?損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

?介電常數(shù)測試裝置（含保護(hù)電極）： 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。

?它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

?微分頭分辨率：10μm

?高耐壓：±42Vp（AC+DC）

?電纜長度設(shè)置：1m

?高使用頻率：5MHz （選配）