GB/T5654-2007液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 返回列表頁

概述

GB/T5654-2007液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀GDAT-S是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。GB/T5654-2007液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀GDAT-S提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。

產(chǎn)品用途

介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(選配）, 三種選項它能完成工作頻率內(nèi)對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

介電常數(shù)測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)可以直接不用人工計算得到。

產(chǎn)品優(yōu)勢

◎可直接得到介電常數(shù)和介質(zhì)損耗 不用人工計算

◎可測試電阻

◎ 4.3寸TFT液晶顯示

◎ 中英文可選操作界面

◎ 5MHz的測試頻率

◎ 平衡測試功能

◎ 變壓器參數(shù)測試功能

◎ 測試速度:13ms/次

◎ 電壓或電流的自動電平調(diào)整（ALC）功能

◎ V、I 測試信號電平監(jiān)視功能

◎ 內(nèi)部自帶直流偏置源

◎ 可外接大電流直流偏置源

◎ 10點列表掃描測試功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻

◎ 內(nèi)建比較器，10檔分選和計數(shù)功能

◎ 內(nèi)部文件存儲和外部U盤文件保存

◎ 測量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1～105

ε和D性能

固體絕緣材料測試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測試。

ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

測試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進

測試信號電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 ;0.1%

顯示范圍

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

測量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準

等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式:自動, 保持

顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動, 外部, 總線

內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能:10檔分選及計數(shù)功能

顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器 :可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，

精度：±0.02%

電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯

電容測量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測試裝置（含保護電極）： 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。

它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

微分頭分辨率：10μm

耐壓：±42Vp（AC+DC）

電纜長度設(shè)置：1m

使用頻率：5MHz （選配）

性能特點

1. 平板電容器     極片尺寸：φ25.4mm\φ50mm  極片間距可調(diào)范圍和分辨率：≥10mm，±0.01mm

2. 園筒電容器     電容量線性：0.33pF / mm±0.05 pF長度可調(diào)范圍和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm

3. 夾具插頭間距：25mm±1mm

4. 夾角損耗角正切值：≤4×10－4（1MHz時）

5、數(shù)顯電極

維修養(yǎng)護

本測試裝置是由精密機械構(gòu)件組成的測微設(shè)備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測試夾具受到碰撞，或者作為定期檢查，要檢測以下幾個指標：

1.平板電容器二極片平行度不超過0.02mm。

2.園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。

3.保證二個測微桿0.01mm分辨率。

4.用精密電容測量儀（±0.01pF分辨率）測量園筒電容器，電容呈線性率，從0~20mm，每隔1mm測試一點，要求符合工作特性要求。

GB/T 5654-2007液體絕緣材料相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量

前言

本標準等同采用IEC60247:2004《液體絕緣材料相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量》(英文版)。

為便于使用,本標準做了下列編輯性修改。

a)用小數(shù)點符號‘.’代替小數(shù)點符號‘，’;

b)“本國際標準"一詞改為“本標準";

本標準代替GB/T 5654-1985《液體絕緣材料工頻相對介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù)和體積電阻率的測量》。

本標準與GB/T 5654-1985相比主要變化如下:

a)本標準增加了“引言"及“規(guī)范性引用文件"章節(jié);

b)在直流電阻率測量中,將“試驗電壓使液體承受200 V~300V/mm……"改為“試驗電壓應(yīng)使液體承受250V/mm……";將電化時間“60s"改為“60 s±2 s";將“注試樣15min后開始測量"改為“不超過10min開始測量";

c)本標準增加了圖2、圖3、圖4、圖 5。

本標準的附錄A、附錄B、附錄C為資料性附錄。本標準由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。

本標準由全國絕緣材料標準化技術(shù)委員會(SAC/TC51)歸口,本標準起草單位:桂林電器科學研究所。

引言

健康和安全:

警告:本標準不涉及所有與使用有關(guān)的安全問題,使用本標準的人員有責任建立合適的健康與安全規(guī)則,并在使用之前確定受規(guī)則限制的適用范圍。

環(huán)境:

本標準會導(dǎo)致產(chǎn)生某些絕緣液體、化學品、使用過的樣品容器和油污染固體等問題,對這些物品的處置應(yīng)按相關(guān)法規(guī)進行,以減少對環(huán)境的影響和危害,并應(yīng)作一切預(yù)防措施以防止這些液體因遺棄而污染環(huán)境。

液體絕緣材料相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量

1范圍

本標準規(guī)定了在試驗溫度下液體絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù),相對電容率和直流電阻率的測量方法。本標準主要是對未使用過的液體做參考性試驗,但也適用于在運行中的變壓器,電纜和其他電工設(shè)備中的液體。然而,本標準只適用于單相液體,當做例行測量時可以采用簡化方法和附錄C所述的方法。

對于非碳氫化合物絕緣液體,則要求采用其他清洗方法。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本標準。

GB/T1409-2006固體絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法(IEC 60250:1969,MOD)

GB/T 1410-2006固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法(IEC60093;1980,IDT)GB/T 21216-2007絕緣液體測量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法(IEC 61620:1998，

IDT)

IEC 60475液體電介質(zhì)取樣方法

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本標準。

3.1

(相對)電容率permittivity(relative)

絕緣材料的相對電容率是一電容器的兩電極周圍和兩電極之間均充滿該絕緣材料時所具有的電容量C.與同樣電極結(jié)構(gòu)在真空中的電容量C之比。

用該電極在空氣中的電容量C.代替C。,對于測量相對電容率具有足夠的精確度。

3.2

介質(zhì)損耗因數(shù)(tan?)dielectric dissipation factor (tano)

絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)(tand)是損耗角的正切。

當電容器的介質(zhì)僅由一種絕緣材料組成時,損耗角是指外施電壓與由此引起的電流之間的相位差偏離π/2的弧度。

注:實際應(yīng)用中,tan8測得值低于0.005時,tan8和功率因數(shù)(PF)基本上相同。可用一個簡單的換算公式將兩者進

行換算。功率因數(shù)是損耗角的正弦,功率因數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)之間的關(guān)系可表達為下式:

式中:

PF一功率因數(shù)

tan 8介質(zhì)損耗因數(shù)。

3.3

直流電阻率(體積)d.c.resistivity(volume)

絕緣材料的體積電阻率是在材料內(nèi)的直流電場強度與穩(wěn)態(tài)電流密度的比值。注:電阻率的單位是歐姆米(Ω.m)。

4概述

電容率、tan8和電阻率,無論是單一還是全部,都是絕緣液體的而有質(zhì)量和污染程度的重要指標。這些參數(shù)都可用于解釋所要求的介電特性發(fā)生偏離的原因,也可解釋其對于使用該液體的設(shè)備所產(chǎn)生的潛在影響。

4.1 電容率和介質(zhì)損耗的數(shù)。

電氣絕緣液體的電容營部分質(zhì)損粕因數(shù)(tane)在相當大程度上取決于試驗條件,特別是溫度和施加電壓的頻率,電容車在工頻和足夠高下與的的人桿,對務(wù)是無依的歸于液體中和介質(zhì)損耗因數(shù)都是介質(zhì)極化和材料電導(dǎo)的度量.自由載流子的存在,測量高純凈絕緣液體的介電特性,對判別電離雜質(zhì)的存在很有價值。介質(zhì)損耗與測量頻率成反比,且隨介質(zhì)粘度的變化而變化、試驗電壓值對測量損耗因數(shù)影響不大，它通常只是受電橋的關(guān)敏度所限制，但是(應(yīng)考慮到高的電場強度會引起電極的二次救應(yīng)、介質(zhì)發(fā)熱、放電等影響。較大的雜質(zhì)所北Z的電容率的變化相對較小,而其介質(zhì)損耗則強烈地受極小量的可電離溶解雜質(zhì)

或膠體微粒的影響，性還導(dǎo)致它有較高

些液體有較大的極性,所以對雜質(zhì)的敏感性較之碳氫化合物液體要強得多。極的陪解和電離的能力,因此在操作時要比對碳氫化合物液體更應(yīng)小心。通常認為初始值能地代表液體的實際狀態(tài)，所以更希望能在一達到溫度平衡時就測量介質(zhì)損數(shù)對溫度的變化很敏感,通常是隨溫度的增加成指數(shù)式的增大,因此需要在足夠精下面所述的方法使試樣溫度在很短的時間內(nèi)達到與試驗池平衡。

耗因數(shù),介質(zhì)損耗因確的溫度條件下進行訂基

4.2電阻率

用本標準的方法測得的電阻率通常并不是真正的電阻率。當施加直流電壓后,由于電荷遷移,將使液體的起始特性發(fā)生隨時間而變化。真正的電阻率只有在低電壓下且在剛施加電壓后才可得到。本標準使用比較高的電壓且經(jīng)較長時間,因此,其結(jié)果通常是與GB/T21215-2007所得到的不同。本標準中液體的電阻率測量結(jié)果與試驗條件有關(guān),主要有:

a)溫度

電阻率對溫度的變化特別敏感,是按1/K指數(shù)變化。因此需要在足夠精確的溫度條件下進行測量。

b)電場強度的值

給定試樣的電阻率可受施加電場強度的影響。為了獲得可比的結(jié)果,應(yīng)在近似相等的電壓梯度下進行測量,并應(yīng)在相同極性下進行,此時應(yīng)注明其梯度值和極性。

e)電化時間

當施加直流電壓時,由于電荷向兩電極遷移,流經(jīng)試樣的電流將逐漸減少到一極限值。一般規(guī)定電化時間為1min,不同的電化時間可導(dǎo)致試驗結(jié)果明顯不同[某些高粘度的液體可能需要相當長的電化時間(見14.2)]。

4.3測量次序

將直流電壓施加在試樣上,會改變其隨后測量的工頻tan8的結(jié)果。

當在同一試樣上相繼測量電容率、損耗因數(shù)和電阻率時,工頻下測量應(yīng)在對試樣施加直流電壓以前進行。工頻試驗后,應(yīng)將兩電極短路1min后再開始測量電阻車。

4.4導(dǎo)致錯誤結(jié)果的因素

雖然只有嚴重污染才會影響電容率。但徽量的污染卻能強烈地影響tan♂和電阻率。不可靠的結(jié)果通常是由于不適當?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴尽⒂晌聪磧粼囼灣鼗蛭樟怂荩貏e是存在不溶解的水份所引起。

在貯藏期間長久暴露在強光線下會導(dǎo)致電介質(zhì)劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運輸以及試驗池的結(jié)構(gòu)和凈化的標準化程序,可使由污染引起的誤差減至最小。

5儀器

5.1試驗池

同一試驗池可用來測量電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率。適合于這些用途的試驗池應(yīng)符合如下要求。

5.1.1試驗池應(yīng)設(shè)計成能容易拆洗所有的部件,并易于重新裝配而不致明顯地改變空池的電容量。同時試驗池還應(yīng)能在所要求的恒定溫度下使用,并提供以所需精確度來測量和控制液體溫度的方法。外加熱的爐(或浴)或內(nèi)部電加熱的試驗池都可以使用，

5.1.2用來制造試驗池的材料應(yīng)是無氣孔的,并能經(jīng)受所要求的溫度,電極的中心對準應(yīng)不受溫度變化的影響。

5.1.3與被試液體接觸的電極表面應(yīng)拋光如值面,以便清洗容易。液體和電極之間應(yīng)沒有相互的化學作用,它們也不應(yīng)受清洗材料的影響。用不銹鋼制造的試驗池(電極)對試驗所有類型的絕緣液體都是適用的,不應(yīng)使用鋁和鋁合金做電極,因為它們會被堿性的洗凈劑腐蝕。

注:通常在表面上電鍍不如一種金屬制成的電極。但表面鍍金,鎳或銠,只要就得好并保持光好無損也可瞞意地使用。殷鋼鍍銠電極較好且具有較低熱膨脹的優(yōu)點。也可采用在黃鋼上鍍鎳或金和在不銹鋼上螳鎳的電極。5.1.4用來支撐電極的固體絕緣材料應(yīng)具有較低的介質(zhì)損耗因數(shù)和較高的電阻率,這些固體絕緣材料不應(yīng)吸收參照液體、被試液體以及清洗材料,也不應(yīng)受它們的影響。

注:通常認為熔酗石英是用作試瞼池合近的皓緣材料,由于普通金屬和石英的鳩膨脹系數(shù)不同,它們接合面之間需

要具有充分的徑向間隙。但應(yīng)注意到這間隙會減小電極間距的精度。

5.1.5保護電極和測量電極之間橫跨液面及固體絕緣材料的距離應(yīng)足夠大,以便能承受施加的試驗

電壓，

5.1.6符合5.1.1到5.1.5要求的任何試驗池均可使用,用于低裝度液體和施加電壓不超過2000V

的試驗池見圖1一圖5。

三端試驗池提供了足以屏蔽測量電極的有效保護電極系統(tǒng)。當進行極精密的電容率測量時應(yīng)選擇三端試驗池。在這種測量中,如有必要,還要求加上一個可拆卸的特殊屏蔽環(huán),并與連接測量電極和電

橋的同軸電纜的外層導(dǎo)體(屏蔽)相連接(見圖2)。

在用兩端試驗池時,引線屏蔽層通常是接到保護電極的。為了防止屏蔽層同任何其他表面接觸,應(yīng)將它牢牢地夾在電纜的絕緣層上。當用這樣的試驗池測量電阻率時,空池的絕緣撐環(huán)的電阻至少是被測液體電阻的100倍。同樣,在交流下測量介質(zhì)損耗因數(shù)也應(yīng)有相應(yīng)的比值。

對于較好的絕緣液體,可能由于絕緣撐環(huán)附加的損耗而改變測量值，為此,建議使用在兩電極間無任何固體絕緣材料支撐的試驗池,這樣的空試驗池的損耗因數(shù)在50Hz時應(yīng)低于10°。

為了使與液體接觸表面的污染影響減到最小,建議采用具有電極表面面積與液體體積之比小的試驗池,例如小于5/cm。

5.2試驗箱

試驗箱應(yīng)能保持其溫度不超過規(guī)定值的士1℃,并有連接試驗池的屏蔽線,試驗池應(yīng)與試驗箱接地外殼絕緣。

5.3玻璃器皿

應(yīng)采用由硼硅琥璃做的普遴化學玻璃器皿,例如:燒杯、量筒、滴管等,且用于操作試樣的所有玻璃器皿至少都應(yīng)按第6章規(guī)定的標準清洗并仔細干燥。

5.4電容率和損耗因數(shù)的測量儀器

只要其測量精度和分辨率適合于被試樣品，可采用任何交流電容和介質(zhì)損耗因數(shù)測量儀器，交流電容電橋及試驗線路的示例與GB/T 1409-2006中規(guī)定一致。

5.5直流電阻率的測量儀器

只要其精度和分辨率適合于被試樣品,可采用任何儀器。合適的儀器和試驗線路與GB/T 1410--2006中規(guī)定一致。

5.6測時器

用于測量電化時間，準確到0.5s。

5.7安全措施

危險警示一一應(yīng)確保設(shè)備的安全裝置正常運行。

清洗用溶劑

用于清洗試驗池的溶劑應(yīng)至少是符合工業(yè)純要求的,其對試驗結(jié)果應(yīng)無影響,溶劑應(yīng)貯存在棕色的玻璃瓶里。

如果溶劑是以桶裝交貨的,應(yīng)過濾,過濾后的溶劑應(yīng)貯存在具有標記的茶色玻璃瓶里。

烴類溶劑，例如汽油(沸點60℃~80℃)、正庚烷、環(huán)已烷和甲苯,對清洗烴類油是合適的。對于有機酯液體,推薦用酒精清選,對于硅液體,則用甲苯清選。其他的絕緣液體,可能需要專用的溶劑清洗。

由于絕緣液體對極微小的污染的影響都極為敏感,因此測量介電性能時試驗池的清洗是重要的，

7清洗試驗池

在進行參考試驗以中定要經(jīng)常清洗試驗性，

在進行例行試驗時，會上一次測的液體特性在規(guī)定值范圍內(nèi),且上一次利這次的被測液體的化學

類型相似，就不必清比試驗池。但下一次試驗前，應(yīng)用定體積的待測樣品至少仲洗試驗池三次。

當試驗池定期展年試驗具有相似化學類型和介電性能的液體時,則用一種清潔的液體樣品充滿后貯存起來，在下一成速量前用一定體積的苻測樣品全少沖洗試驗池三次。

可使用許多不同類型的清洗程序,只要它們已被證明是有效的，

在附錄AUB中介紹了另外請法程序的實側(cè),

當實驗室之間的爭議時，可又用以下清洗程序，

注:使用海劑)山性意著火危險及對人員的有有危害。

7.1

拆卸試

地洗議所有的組成部件,并更換兩次溶劑(兌第6章)，用丙酮漂洗所有部件,然后用軟性擦皂和洗清劑洗滌.

用5%的磷酸餾水溶液成去離了水溶難點排至少5min,然后用蒸僧水或去高子水漂洗幾次。

將所有部件在蒸館水攻去離于水中煮沸至少30 min。

因為某些材料可能合工化在加熱105℃~110℃的烘箱中充分烘干各部件且不超過120min。干燥時間取決于整個試驗袍的結(jié)構(gòu),但通常用60 min~120min已足以除去任何水份。冷卻前重新裝好試驗油“并確保不用裸手接觸到其任何將要浸液休的表面，

7.2 試驗池的存放

當試驗池不用時,推薦使用經(jīng)常試驗且清潔的絕緣液體充調(diào)試驗池后保存起來。或當試驗不同液體時,用對試驗池無損害的溶劑充滿后保存。

不經(jīng)常使用試驗池時,則應(yīng)將其清洗,干燥并裝配好,存放在干燥無塵的容器里。也可以按照制造商推薦的方法來操作。

8取樣

用于這些試驗的絕緣液體取樣應(yīng)搜IEC 60475的規(guī)定進行。樣品應(yīng)在原先的容器內(nèi)儲存及運輸,而且應(yīng)避光。

9樣品制備

除非被試液體的規(guī)范中另有規(guī)定,否則無需進行過濾、干燥等處理。

當需要預(yù)熱試樣時,在倒出足夠的樣品用作其他試驗時,應(yīng)盡可能將余下的樣品在原來的樣品容器里預(yù)熱,此時,應(yīng)考慮液體的熱膨脹而留有足夠的空間,以避免容器破裂。

當試樣必須移到其他容器內(nèi)時,這些容器應(yīng)是帶蓋燒杯或帶塞子的錐形玻璃燒瓶,并按第7章要求進行清洗。

如果必須在室溫下進行試驗,則應(yīng)將原來樣晶容器放在將要進行試驗的室內(nèi),直至樣品達到室溫。當需在高溫下進行試驗而試樣又不能在試驗池內(nèi)加熱時,試樣容器或輔助的容器要用塞子塞住,并保證在此容器內(nèi)有合適的體積足以滿足液體的熱膨脹,在烘箱里把它加熱到高于要求的試驗溫度5℃~10℃,

由于液體易氧化,因此加熱時間應(yīng)不超過1h。

若必須在一個單獨的烘箱內(nèi)加熱液體,為防止污染影響,保證一個烘箱只用于一種類型的液體。

為了取到有代表性的試樣,在取樣之前,應(yīng)將容器傾斜并緩慢地旋轉(zhuǎn)液體幾次,以使試樣均勻。用干凈的無絨布擦洗容器口,并倒出一部分液體樣品擦洗容器的外表面。

10條件處理及試驗池充填試樣

10.1試驗池的條件處理

在洗凈并干燥完電極后,注意不要用襟手接觸它們的表面,也應(yīng)注意放置試驗池部件的表面要很清潔,試驗池上面不要有水燕汽或灰塵，

為了使試驗池的清洗程序?qū)﹄S后試驗的影響減到最小,很重要的一點是要對干燥清潔的試驗池進行預(yù)處理,即用下次的被試液體充滿試驗池兩次。對于高粘度液體,可能需要更長時間的預(yù)處理。

10.2試驗池充填試樣

用一部分液體試樣刷洗試驗池三次,然后倒出并倒掉液體。在劇洗試驗池時,若需要取出內(nèi)電極，應(yīng)注意防止在任何表面剩回液體,并防止塵粒聚集在試驗池的浸液表面。

重新充滿試樣，注意防止夾帶氣泡。將裝有試樣的試驗池加熱到所需試驗溫度,每個試驗溫度所需的時間取決于加熱方法,通常可能在10 min~60 min范圍，在達到所需試驗溫度的士1℃時,10min內(nèi)必須開始測試。

應(yīng)特別注意防止液體或試驗池的各部件與任何污染源相接觸。

在一種液體內(nèi)不呈活性的雜質(zhì)可能在另一種液體內(nèi)會因雜質(zhì)的遷移而呈現(xiàn)活性,因此限制一試驗池只用于一種類型的液體。

應(yīng)盡可能地保證周圍大氣中不存在影響液體質(zhì)量的水蒸汽或氣體。

11試驗溫度

這些試驗方法適合于在一個很寬的溫度范圍內(nèi)試驗絕緣液體,除非在特定液體的規(guī)范中另有規(guī)定，一般試驗應(yīng)在90℃下進行。

測量溫度的分辨率應(yīng)在0.25℃以內(nèi)，

12 介質(zhì)損耗因數(shù)(tam?)的測量

12.1試驗電壓

通常采用頻率 40 Hz~62 Hz的正弦電壓。施加交流電壓的大小視被試液體而定,推薦電場強度為0.03 kV/mm~1 kV/mm,

注:通常在上述頻率范圍內(nèi),可用下列公式從一個顧率的結(jié)果換算成另一個頗率的對應(yīng)值:

12.2測量

試驗池非自動加熱,當其溫度達到所要求試驗溫度的士1℃時,應(yīng)于10min內(nèi)開始測量損耗因數(shù)。在測量時施加電壓。完成初次測量后(如果需要,也包括測量電容率和電阻車時),倒出試驗液體。再用第二份試樣充滿試驗池,操作程序和次相同,但省去限洗。重復(fù)測量,兩次測得的tan8值之差應(yīng)不大于0.0001加兩個值中較大的25%。

如果不病足上述要求,則繼續(xù)充填試樣測量,直到相鄰兩次tanò測量值之差不超過0.0001加兩個值中較大的25%為止,此時認為測量是有效的,12.3報告

注:只有鑒定tan值較小的產(chǎn)品時才需要重復(fù)測量,例行試驗不需要重復(fù)測量。

報告兩次有效測量值的平均值作為試樣的損耗因數(shù)(tan8)。

報告應(yīng)包括:

)電場強度

試驗溫度，

3相對電

13.1測量

首先測量以干燥空氣為介質(zhì)的干凈試驗池的電容量::然后測量裝有已知相對電容率為。的液體的

電容量。按下式電板常數(shù)C.和修正電容

S3d

式中:

C.一-電極常數(shù)

--+-…-------(3)

*-----(4)

C.一-充有已用相對電容率為c的校電溶液的試驗池的電容量;

C,一一以空氣行決介質(zhì)的試驗池的電容量，

C修正電

測量裝有被試流體的試驗池的電容量C并按下式計算相對電容率

ONVIS

式中:

.一被試液體的相對中容率，

C.一一被試液體的電容量:

(5)

C.一一以空氣作為介質(zhì)的試驗他的電容量;

C一修正電容。

重復(fù)試驗,直至相鄰兩次測試值的差不大于較大值的5%,則認為測量是有效的。注1:如果在測定C。值時已知C.、C和。值,則可獲得的精度。

注2,當用設(shè)計很好并預(yù)先校正過的三端試驗他時或當精度要求校低時,可以忽略C。項,而相對電容率可按簡化公

式計算。

式中，

。一被試液體的相對電容率。

C一被試液體的電容量:

C一裂空氣作為介質(zhì)的試驗鈾的電容量。

13.2 報告

報告有效測量的平均值作為試樣的相對電容率。

報告應(yīng)包括:

二)試驗池的類型及以空氣為介質(zhì)時的電容量:

b)電場強度;

e)施加電壓的頗率:

d試驗溫度。

14直流電阻率的測量

14.1試驗電壓

除非另有規(guī)定,所施加的直流試驗電壓應(yīng)使液體承受250V/mm的電場強度。14.2電化時間

通常適宜的電化時間是60s±2s。電化時間的改變可使試驗結(jié)果有相當大的變化。14.3測量

如果在該試樣上已測過損耗因數(shù),則測量電阻率之前應(yīng)短接兩電極60s.如果僅測量電阻率,那么在其溫度達到所需試驗溫度值的士1℃后盡可能快地開始測量,即到溫度不超過 10min就開始測量。

連接電極到測量儀器,使試驗池的內(nèi)電極接地。將直流電壓加到外電極,在電化時間達到終點時記錄電流和電壓讀數(shù)。

掛1,只要符合其他的一些要求(例知:電場強度為250V/mm),也可用讀取電阻的儀器。

將試驗池的兩電極短路5min。倒掉試驗池里的液體,從樣品中倒出第二份試樣重復(fù)測量。用下式計算電阻率:

式中:

一電阻率,單位為歐姆米(Ω·m);

U一試驗電壓讀數(shù),單位為伏特(V):

1--電流讀數(shù),單位為安培(A);

K一一試驗池常數(shù),單位為米(m)。

注2:K值按下式計算:

K-0.113XC,

式中;C.一一以空氣作為介質(zhì)的試驗池的電容量:0.113--10-"乘以空氣的介電君數(shù)的例數(shù)。

相鄰兩次讀數(shù)之差不應(yīng)超過兩值中較高的35%。如果不滿足該要求,則需繼續(xù)充填試樣測量,直到相鄰兩測量的電阻率值之差不超過兩值中較高的35%為止。此時則認為測量是有效的。注3:對每一次充瞞的試樣進行施加極性相反電壓的第二次測量,可以觀察到試驗他是否干凈和其他現(xiàn)象。必領(lǐng)注意到有些儀器是沒有這樣的反轉(zhuǎn)開關(guān)的,不要用這樣的儀器,以免得出有誤差的結(jié)果。

也可使用自動計算的直接讀數(shù)的儀器。

14.4報告

報告有效測量結(jié)果的平均值作為樣品的電阻率。

報告應(yīng)包括:

a)電場強度;

b)電化時間:

c)試驗度。

附錄A

(資料性附錄)

清洗試驗池的另一程序舉例一超聲波程序法

拆卸試驗池，

用兩份溶劑(見第6章)清洗所有部件。

將所有的試驗池部件,包括玻璃和橡皮“O"型環(huán),浸在合適的超聲波清潔浴內(nèi)的溶劑中清潔10min.

將所有部件從浴中取出,用清潔的溶劑清洗。

允許溶劑在無灰塵的環(huán)境中自然蒸發(fā),為保證蒸發(fā),可將試驗池部件放置在已加熱到105℃~110℃的烘箱中干燥且不超過120min,

重新裝配試驗池時,確保不用裸手接觸到任何將要浸液體的表面。

附錄B

(資料性附錄)

試驗池的簡易清洗程序舉例

盡可能拆卸試驗池。

首先用丙酮,然后用熱自來水沖洗所有部件,接著再用蒸餾水清洗幾次。將試驗池部件放置在已加熱到105℃~110℃的烘箱內(nèi)充分干燥,因某些材料可能老化,干燥時間

用兩份溶劑(見第6章)清洗所有部件，

不應(yīng)超過120min.

干燥時間取決于試驗池的結(jié)構(gòu),通常干燥時間在50 min~120 min足以除去任何水份。