顯微透過率測量儀TMS-Pro

顯微透過率測量儀TMS-Pro能快速準確地測量各類平面、球面、斜面等光學元件的相/透射率及曼透射測量，可用于實時顯示單、多點波長透過率數據及波段平均透過率數據、實時顯示半透波長及斜率等。適用于手機蓋板IR孔、白油墨（半透白、均光白）、弧形邊IR孔(2.5D 、3D)、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片光學元件等的透光率測量。

顯微透過率測量儀TMS-Pro
 
用途：
能快速準確地測量各類平面、球面、斜面等光學元件的相/透射率及曼透射測量，可用于實時顯示單、多點波長透過率數據及波段平均透過率數據、實時顯示半透波長及斜率等。適用于手機蓋板IR孔、白油墨（半透白、均光白）、弧形邊IR孔(2.5D 、3D)、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片光學元件等的透光率測量。

特點：
1、 采用全角度采集全穿透式測量（積分球式）
2、 采用顯微同軸共聚焦技術視頻對孔，使定點測量更直觀更精準
3、實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數據及半透波長監測，自動調整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。 
4、檢測時間毫秒級：高性能探測器，可在0.3秒內時間重現性高的測定； 
5、可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結果更準確。
 
技術規格：
測量系統：單光束
測量方式：全角度采集全穿透式測量（積分球式）
檢測器: Hamamatsu（薄型背照式FFT-CCD、美國進口）
檢出限: 0.05%
光度準確性: <0.5%（400-1000nm）與標樣比
光度重復性：<0.3%
波長檢測范圍:380-1100nm
信噪比（全信號）:450:1
波長重復率:0.1nm
樣品測試平臺: X、Y軸可調
光源: 高功率鹵素光源
光斑直徑: ＜0.3mm(可擴展到0.1mm連續可調)
樣品大小: ≥0.5mm
單次測量時間: ﹤0.3s
對焦方式: 數字相機視頻對焦
物鏡：10X
軟件：Qspec Suite V1.0，可顯示單、多點波長數據，可同時測量多孔進行綜合判定，可手動和自動保存數據，自動統計所測產品批號總數、良品、不良品的數量及百分比并以報表的形式一鍵導出,超差報警提示，可根據用戶標準校準機差;升級.
操作系統/接口：Win7, Win10/ USB2.0