Name: JJF1092-2002顯微J測微表專用表架 檢定用圓柱
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JJF1092-2002光切顯微鏡校準規范貨號AUBAT-1092G測微表專用表架檢定用圓柱單刻線樣板專用階梯量塊組計量特性1測微目鏡視場及示值誤差測微目鏡鼓輪指示零位時，測微目鏡分劃板的毫米刻線應套在雙刻線指標內

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JJF1092-2002光切顯微鏡校準規范
貨號AUBAT-1092G
測微表專用表架
檢定用圓柱
單刻線樣板
專用階梯量塊組

計量特性
1 測微目鏡視場及示值誤差

測微目鏡鼓輪指示零位時，測微目鏡分劃板的毫米刻線應套在雙刻線指標內。在儀器視場中，狹縫像與被測物的像應能同時調節清晰，并處于視場，其清晰度范圍不應小于 60%視場直徑范圍; 在目鏡視場中觀察線紋尺的像應平行而對稱，不應有明顯偏斜或扇形。

測微目鏡鼓輪在任意一周內的示值誤差不超過 0.005mm，在全量程內示值誤差不超過 0. 01mm。
2 狹縫像兩邊緣的直線度和平行度
狹縫像邊緣應平直，不應有目力可見的彎曲和缺口。狹縫像兩邊緣的平行度在目鏡視場中不超過 0.03mm。
3 工作臺縱橫向導軌移動平面對工作臺表面的平行度
平面工作臺工作表面，在工作臺整個工作行程中任意 3mm 內的平行度不超過0. 002mm.
V形塊的 V形槽工作表面，在工作臺整個工作行程內的平行度不超過 0.005mm。
4 狹縫像在垂直方向的彎曲度
在使用 60X物鏡時，不超過 0.007mm，在使用 30X物鏡時，不超過 0.011mm。
5托架受 20N 側向力時引起物方像的位移
托架受 20N 側向力時引起物方像的位移不超過 0.05mm。當外力去除后，物方像不返回原位的位移不超過 0.03mm。

校準方法：
1.工作臺縱橫向導軌移動平面對工作臺表面的平行度

在儀器的立柱上裝一分度值為 0.001mm 的測微表，并使測微表的測量頭與平面工作臺的一端相接觸，在縱橫向上分別移動工作臺時，觀察測微表的示值變化。然后將 V形塊安放在平面工作臺上，并將校準用圓柱(圓柱度在 50m 長度上不大于0.002mm)放在 V形槽內。同樣使測微表的測量頭與圓柱*高點母線相接觸，移動工作臺時，觀察測微表的示值變化。測微表的示值變化即為平行度。

2.狹縫像在垂直方向上的彎曲度
在工作臺上放一量塊，調節儀器使在測微目鏡視場中部呈現清晰的狹縫像。然后在儀器的立柱上裝夾一千分表，使其測量頭與儀器托架相接觸。再次調節測微目鏡視場中部呈現清晰的狹縫像，讀出千分表的讀數 al。再轉動微調機構分別調節狹縫像左、右二端清晰，讀出千分表的讀數 a2，a3。a2 和 a 分別與的差值即為縫像在垂直方向上左、右二端的彎曲度。注: 調節狹縫像左、右二端清晰時，其清晰范圍均應大于視場直徑的十分之一
3.儀器示值誤差
選用單刻線樣板校準儀器示值誤差。先將單刻線樣板置于儀器工作臺上，然后調整儀器使單刻線樣板在視場內出現清晰像，借助儀器工作臺的微分筒移動單刻線樣板，使樣板的應用段連同兩個記號一起呈現在狹縫清晰像的一邊，并使樣板的刻線方向與狹縫像的長邊垂直。然后轉動測微目鏡鼓輪使水平線平行于狹縫像的邊緣，再次調節儀器使樣板表面的像達到*清晰，轉動測微鼓輪使測微目鏡水平線與樣板刻線表面的像重合，讀出測微鼓輪的**次讀數。然后轉動測微鼓輪使測微目鏡十字線的水平線與樣板刻線底部的像重合，讀出測微鼓輪的**次讀數。在測量樣板的刻線深度時應進行三次調焦，各次調焦要進行三次讀數，樣板的刻線深度取 9 次測得深度的平均值。

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