本儀器是相位鎖定放大器,用于光學鍍膜膜層厚度測量和控制。它由主信號通道,參考信號通道和*的四階低Q濾波技術組成,有很強的諧波抑制能力和動態(tài)儲備,能測量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號幅度和相位。
側板:
GM-X03
GM-X03側板
產品特點:
1.采用進品高精密元件制作和DAAS是數字頻譜分析系統(tǒng)測試,確保儀器具有可靠的質量和*的性能。
2.高穩(wěn)定性。
3.操作簡便,實用性強
基本參數
| 計量單位: | 臺 同參數產品 |
|---|---|
| 測量范圍: | 5ma-500ma 同參數產品 |
| 類型: | 薄膜測厚儀 同參數產品 |
| 顯示方式: | 指針,數顯 同參數產品 |
| 品牌: | LXVTC 同參數產品 |
| 型號: | GM-X03 同參數產品 |
| 加工定制: | 是 同參數產品 |
| 測定對象: | 鍍膜膜厚 |


















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